Keithley 6482E 雙通道皮安表 / 電壓源 低電平測量儀器
詳情內(nèi)容
Keithley 6482E 雙通道皮安表 / 電壓源 低電平測量儀器
一、品牌介紹
二、產(chǎn)品特點
雙通道同步測試：配備兩個獨立的皮安表/電壓源通道，支持多通道器件同步測量、多位置電流監(jiān)控與多傳感器數(shù)據(jù)采集，大幅提升測試效率，適配多引腳器件測試需求。
超高測量精度：具備6位半測量分辨率，電流測量分辨率達(dá)1fA，可精準(zhǔn)捕捉微弱電流信號；支持2.000000nA至20mA多量程測量，精度達(dá)1.00%+2pA（特定條件下），保障測量數(shù)據(jù)可靠。
雙路偏置電源：搭載兩個獨立±30V偏置電源，可靈活為被測器件提供偏置電壓，適配不同電子器件的測試需求，提升測試場景適配性。
豐富數(shù)據(jù)處理功能：每通道配備3000點緩存，支持測試完成后批量數(shù)據(jù)發(fā)送；具備均值、中值濾波功能，支持相對讀數(shù)（REL）與對數(shù)顯示（LOG），便于數(shù)據(jù)處理與分析。
穩(wěn)定運行特性：采用三同軸輸入設(shè)計，保障最優(yōu)噪聲保護；具備220V過載保護與堅固機身設(shè)計，可耐受過量溢出；工作溫度范圍覆蓋0~50℃，適配實驗室與生產(chǎn)線長期運行需求。
便捷集成與操作：支持IEEE-488與RS-232接口，可輕松集成于自動化測試系統(tǒng)；一鍵式前面板設(shè)計，無需復(fù)雜菜單即可完成功能配置；支持顯示開關(guān)控制，避免光線對光敏器件測試的干擾。
三、產(chǎn)品規(guī)格
規(guī)格項目 | 詳細(xì)參數(shù) |
儀器類型 | 雙通道皮安表/電壓源 |
測量通道 | 2個獨立測量通道，完全隔離 |
電流測量范圍 | 20mA~2nA，多量程可選；最小量程2.000000nA |
電流測量分辨率 | 1fA（2nA量程下） |
電流測量精度（23℃±5℃） | 1.00%+2pA（2nA量程，1NPLC，自動調(diào)零開啟） |
偏置電壓范圍 | 雙路獨立輸出，±30V |
顯示分辨率 | 6位半 |
數(shù)據(jù)緩存 | 每通道3000點 |
接口類型 | IEEE-488（GPIB）、RS-232 |
輸入保護 | 220V過載保護 |
工作溫度范圍 | 0℃~50℃ |
預(yù)熱時間 | 1小時（達(dá)到標(biāo)稱精度需滿足） |
四、應(yīng)用場景
半導(dǎo)體器件測試：適配雙二極管、多引腳半導(dǎo)體器件、光電二極管等器件測試，可完成暗電流、漏電流等低電平信號測量，雙通道設(shè)計支持多器件同步測試，提升測試效率。
電子元器件生產(chǎn)測試：適用于二極管、晶體管、電阻、電容等元器件的批量生產(chǎn)測試，可完成裝配工藝檢測、最終性能測試與部件分級，保障生產(chǎn)質(zhì)量與產(chǎn)能。
研發(fā)實驗室測試：適配先進材料研究、超導(dǎo)性測試、納米技術(shù)研發(fā)等科研場景，1fA高分辨率可精準(zhǔn)捕捉微弱電流信號，滿足科研過程中對測量精度的嚴(yán)苛需求，助力新技術(shù)研發(fā)。
質(zhì)量控制環(huán)節(jié)：適用于電子器件及系統(tǒng)產(chǎn)品的質(zhì)量控制檢測，可快速完成批量產(chǎn)品的低電平性能篩查，及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量問題，保障出廠產(chǎn)品一致性與可靠性。
自動化測試系統(tǒng)集成：支持IEEE-488與RS-232接口，可輕松集成于大規(guī)模自動化測試系統(tǒng)，適配電子制造領(lǐng)域自動化、標(biāo)準(zhǔn)化的測試需求，提升測試流程效率。
特殊場景測量：可用于離子束監(jiān)測、電子顯微鏡配套測量等場景，穩(wěn)定的測量性能與抗干擾設(shè)計，能適應(yīng)復(fù)雜測試環(huán)境，保障測量數(shù)據(jù)精準(zhǔn)。
